磁芯损耗测试：ZES 功率分析仪LMG系列
在电机的铁磁元件中，磁芯损耗是由于磁场变化的影响而产生的，这种影响都是由不断的磁极倒转和涡流损耗引起的，这些涡流损耗Z终转化为热能或声能。电机磁芯损耗测试。
磁芯损耗通常是一直存在的，当然，因为损耗的多少对电池及电机都会产生不良影响，例如，会减少电动车电池的效率，所以，不管任何时候，我们都希望尽量减少这种损耗。
通过测试绕组的励磁电流和传感器绕组的磁化电压，可以直接测量铁芯的功率损耗。磁芯材料中的磁通密度可以由传感器绕组中感应电流的整流值导出。磁场强度与流过测试绕组的电流成正比。高频电流可以直接在磁芯中测量，高精度传感器被用来测量高安培的叠片磁芯。
磁芯损耗的测试对功率分析仪提出来巨大的挑战。1、需要测量极低功率因数下的准确功率值（功率因数＜0.01），这个数值很多功率分析仪是无法给出准确的高精度数值的。2、大量变量值的计算，比如磁场强度（Hpk）、磁通密度（Bpk）等。
Zimmer的高精度功率分析仪LMG系列功率分析仪，可在0.01功率因数下保障极高的测量精度、极高的带宽及大量数据的计算输出。
